检测有无传感器应用

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漫反射光电检测晶片

漫反射光电检测晶片

使用漫反射式光电检测晶片，从而确定晶片的数量。
检测晶片盘有无

检测晶片盘有无

在晶片盘放置位上，侧面安装背景抑制型光电，检测晶片盘有无。由于晶片盘颜色较深，且有一定的光泽度，反光较强，可采用抗干扰性能强大的背景抑制型光电ESB-30N来进行检测，稳定性佳。

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