明治案例 | 1μm！光谱共焦双探头方案，精准测出薄膜“真实厚度”

客户要求在同一薄膜上测量5个点位（中心点+4个边点），全面评估整张薄膜的厚度均匀性。

产品表面覆有一层透明膜。在质量检测环节，客户需要测量薄膜基底的真实厚度，但传统测量方式难以将透明膜与薄膜基底区分开来——测出来的数据总把透明膜的厚度也算进去，导致测量结果“虚高”，无法真实反映薄膜本体的厚度是否达标。

基于客户“透明膜+薄膜”双层结构、需要剔除透明膜厚度、且要测5个点位的要求，我们推荐以下配置：

面对透明、多层、高反光等复杂材质，传统激光位移传感器或接触式测厚仪常常力不从心。而光谱共焦技术具备以下独特优势： 

透明材质“层层透视”：利用白光色散原理，可精准识别透明/半透明物料的不同界面反射光，轻松区分透明膜与基底，实现分层测量。 

超高重复精度：天生具备纳米级分辨率，重复精度可达0.05μm（50nm），满足高端薄膜±1μm的严苛管控要求。 

非接触、无损伤：光学测量方式不接触薄膜表面，避免划伤、压痕，尤其适合精密涂布、光学膜等产品。

ACC10-2-485为四通道控制器，可同时连接4个探头，扩展性强，重复精度达50nm，为高精度测厚提供核心保障。 

 ACC-0158LR012探头采用小光斑、大角度设计，特别适合透明薄膜的镜面反射测量，配合上下对射安装，完美实现对射测厚。

在同一薄膜样品上选取5个测量点，每个点位重复测试50次，数据如下：

单位：μm

5个点位的50次重复测试，极差均远小于1μm，重复精度稳定可靠。从5点平均值来看，薄膜呈现边缘略厚、中心略薄的趋势，整体厚度均匀性良好。

本方案实测成功攻克了“透明膜+薄膜”复合结构的精密测厚难题，具有以下突出优势：

✅ 非接触式测量，不损伤样品；

✅ 精准剔除透明膜干扰，真实反映薄膜本体厚度；

✅ 重复精度高（≤0.65μm），满足微米级品控要求；

✅ 双探头对射设计，不受材料折射率影响，适用性广。

该方案不仅适用于光学膜、PET膜、涂布膜，还可推广至各类带透明涂层的柔性材料检测，为高端制造提供可靠的厚度监控手段。

如果您也面临类似的薄膜测厚难题，欢迎随时交流探讨。